Nakon što student položi ovaj ispit, biće u mogućnosti da: objasni funkciju djelova skening elektronskog mikroskopa (SEM-a) i skening transmisionog elektronskog mikroskopa (STEM-a); objasni stvaranje slike u skening elektronskoj mikroskopiji i njenu obradu; objasni dimenziona mjerenja koja se vrše pomoću SEM-a; opiše postupak pripreme uzoraka za ispitivanje; objasni generisanje X-zraka u uzorku; opiše specijalne mehanizme kontrasta; objasni EDS i WDS kvalitativnu analizu; prezentira kvantitativnu X-ray mikroanalizu.
Ime | Predavanja | Vježbe | Laboratorija |
---|---|---|---|
VANJA ASANOVIĆ | 2x0 | 2x0 |